尺度单元库特征化解决方案
通过智能剖析算法来剖析、提取单元的ARC和功效。
接纳先进的漫衍式并行架构手艺。
内置功效强盛的NanoSpice仿真器。
准确、高效的平面工艺和FinFET工艺(支持7nm)单元电路特征仿真与提。奘毙、功耗及噪声等。
提供友好、易使用的接口,资助用户缩短产物开发周期。
配备先进的漫衍式并行架构
比REF工具快2倍
基于单元电路剖析算法
自动化完整提取ARC
内置并行的NanoSpice引擎
支持先进的K库模子
支持7nm
FinFET先进工艺
精练易用的设置和用户接口
内置便捷的benchmark liberty utility工具
支持ARM/X86和SGE/LSF集群
扩容性优异
Planar工艺库特征化
FinFET工艺库特征化
定制化单元库特征化
云盘算库特征化